光电传感器表征专家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商业标准化的最新型单光子探测器 (SPD, Single Photon Detector) 特性测试分析设备SPD2200。光焱科技整合了所有先进光学与电学系统，提供完整与便利的软件控制接口与分析功能，助力客户加速直接飞行时间（dToF）单光子雪崩二极管（SPAD）产品的开发周期，提升竞争力。
测试分析
SPD2200具备的全光谱性能测试包含：
- 全光谱光谱响应 (SR, Spectral Responsivity)
- 全光谱量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)
- 全光谱光子探测率 (PDP, Photon Detection Probability)
- 暗计数DCR (Dark Count Rate)
- 崩溃电压BDV (Break-Down Voltage)
在不同电压下，SPAD光子探测效率的PDE光谱
SPAD的暗计数与偏压关系图
SPAD暗计数与崩溃电压
SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：
- Jitter
- Afterpulsing probability
- Diffusion tail
- SNR
SPAD的Jitter测量
适用范围
SPD2200适用各种传感器测试分析，包含：
- SPAD
- SPD (Single Photon Detector)
- SiPM (Si PhotoMultiplier)
- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)
- dToF Light Sensor
- LiDAR Sensor
- Wafer Level SPAD
